Rasterelektronenmikroskopie - DotLine GmbH
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Rasterelektronenmikroskopie
Instrument
FEI Quanta 400 ESEM
• Sekundärelektronen-Detektor (SE)
• Back-scatter Detektor (BS)
• Hochvakkum Modus
• Niedervakuum Modus
• Environmental Modus (bis 20mBar)
• Sputter-Coater (für nichtleitende Proben)
• Grosse Probenkammer (375mm Durchm.)
Einsatzgebiete
- Forschung und Entwicklung
- Produktion
- Schadensanalyse
- Qualitätssicherung
- Identifizierung von kleinen Objekten
- Biologie, Gartenbau
- Analyse von Stäuben, Luftschadstoffen, Pollen
- Beschichtungsfehler
- Oberflächenuntersuchungen
- Morphologie
- Rauhigkeit
- 3D-Profile
Strukturanalyse
- Vermessung kleiner Strukturen
- Identifizierung von
- Verunreinigungen,
- Einschlüssen,
- Korrosion
- Identifizierung von Materialschäden
z.B. Mikrorissen, Beschädigungen - Partikelanalyse
- Vermessung von Partikeln, Löchern
- Größenklassifizierung
- Morphologie
Weitere Einsatzgebiete:
- Sedimentanalysen
- z.B. Verunreinigungen in Wasserkreisläufen
- Kristallbildungen
- Ablagerungen
- Fremdstoffe in Schmierflüssigkeiten
- Biologische Proben
- bei Niedrigvakuum bzw. ESEM-Modus mit 20mBar Wasserdampfatmosphäre
- Filtration von Proben auf Nuclepore-Trägern
- Auf Anfrage: Elementaranalyse (EDX)
- elementare Zusammensetzung
- Elemental mapping (Karten der elementaren Zusammensetzung)
Bei Interesse und Fragen, rufen Sie uns bitte einfach an (Kontaktdaten siehe unten).
Wir stehen Ihnen gerne auch kurzfristig für eine kostenlose Erstanalyse zur Verfügung.
Dr. Christoph Bittner
Tel.: 0521 238 312-18
E-Mail: cb@dot-line.de